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质量好的便携式方块电阻测试仪，M3手持式四探针方块电阻电阻率测试仪苏州晶格电子供应， 科技的更新带动技术的进步，我司始终相信科技的力量。苏州晶格电子有限公司是一家的M3手持式四探针方块电阻电阻率测试仪供应商，求真务实、开拓创新。公司拥有完整、科学的质量管理体系，保证产品质量。产品主要面向高校、科研院所、企业供应好的M3手持式四探针方块电阻电阻率测试仪，以不断创新的产品来缔造科技进步的阶梯。

苏州晶格电子技术力量雄厚，生产设施齐全、检测手段完善，多年来一直致力于M3手持式四探针方块电阻电阻率测试仪的研发生产。公司始终以满足客户需求为主要目的，服务于全国各地区。M3手持式四探针方块电阻电阻率测试仪主要用于测量电阻率、方阻、电阻，能够满足各类用户的需求，公司的诚信、实力和产品质量都获得业界的认可。

深化精细管理，努力挖潜增效。苏州晶格电子有限公司实行科学规范化管理，一贯坚持提供优良的产品服务，供应的M3手持式四探针方块电阻电阻率测试仪深受广大高校、科研院所、企业的一致好评，市场规模愈发扩大。秉承“以客户为中心”的服务理念，一直用心去感受客户需求，为客户提供符合其需求的M3手持式四探针方块电阻电阻率测试仪。供应的产品是在付款当天内发货，请下单的客户悉知，针对售出的产品，我们还将提供包修包换包退的售后服务，为客户提供满意的保障。

质量好的便携式方块电阻测试仪，

M3手持式四探针方块电阻测试仪优势特征：

质量好的便携式方块电阻测试仪，

一、概述

2.1基本功能和依据标准：

M3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、等国标并参考美国 A.S.T.M 标准。

2.2配套组成：标准配置由M-3型主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台当台式机使用。

2.3优势特征：

1美观适用：彩色流线型手持式面板、带防滑垫，符合人体工程学设计。适合手持式变动场合操作使用，也可以定制小型旅行手提箱包装，便于野外或旅行使用。

2高精度：M3手持式四探针方阻仪，带完善厚度、形状修正功能，所以测试精度高。同行中手持式多为简易程序，没有完整修正功能，所以无法修正厚度、形状修误差。

3宽量程：超宽五个档位，相当于中档台式机的量程，同行中手持式多为两到三个档位，测试范围有限，适应性不广。

4操作简便、性能稳定：轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换，简便而且免除模拟定位器的不稳定易受干扰。

5手动/自动一体化：

6显示方式美观清晰：由高亮绿色数码和ＬＥＤ数字表头显示，不怕环境背景暗或野外强光；

7待机和工作时间长（不小于两天），有大容量可充电锂电池电池供电，环保耐用。

2.4探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》

1配高耐磨的碳化钨探针探头，如ST2253-F01型，以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；

2配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头，如ST2558B-F01型，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。

3配专用箔上涂层探头，如ST2558B-F02型，也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。

4换上四端子测试夹具，还可对电阻器的体电阻进行测量。

2.5测试台选配：根据不同材料特性需要，测试台可有多款选配。详情见《四探针测试台型号规格特征选型参照表

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一、概述

2.1基本功能和依据标准：

M3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、等国标并参考美国 A.S.T.M 标准。

2.2配套组成：标准配置由M-3型主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台当台式机使用。

2.3优势特征：

1美观适用：彩色流线型手持式面板、带防滑垫，符合人体工程学设计。适合手持式变动场合操作使用，也可以定制小型旅行手提箱包装，便于野外或旅行使用。

2高精度：M3手持式四探针方阻仪，带完善厚度、形状修正功能，所以测试精度高。同行中手持式多为简易程序，没有完整修正功能，所以无法修正厚度、形状修误差。

3宽量程：超宽五个档位，相当于中档台式机的量程，同行中手持式多为两到三个档位，测试范围有限，适应性不广。

4操作简便、性能稳定：轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换，简便而且免除模拟定位器的不稳定易受干扰。

5手动/自动一体化：

6显示方式美观清晰：由高亮绿色数码和ＬＥＤ数字表头显示，不怕环境背景暗或野外强光；

7待机和工作时间长（不小于两天），有大容量可充电锂电池电池供电，环保耐用。

2.4探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》

1配高耐磨的碳化钨探针探头，如ST2253-F01型，以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；

2配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头，如ST2558B-F01型，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。

3配专用箔上涂层探头，如ST2558B-F02型，也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。

4换上四端子测试夹具，还可对电阻器的体电阻进行测量。

2.5测试台选配：根据不同材料特性需要，测试台可有多款选配。详情见《四探针测试台型号规格特征选型参照表

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