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一、仪器名称：台式X荧光镀层测厚仪X-Strata920 二、仪器型号：X-Strata920 三、生产厂家：日立分析仪器 四、产地：德国 山东总代：青岛浩正科仪智能技术有限公司 hzzn-qd 15-2。53，20。13-71 五、仪器简单介绍 X-Strata920XRF，镀层测厚仪，zui高jing确度，zui少浪费 若不足一微米在您的镀层测量业务成败中举足轻重，则请选择X-Strata920。 您可选择比例计数器或硅漂移探测器（SDD），确保拥有正确配置。 如果您从事电子或金属表面处理，我们可提供适合您业务的解决方案。X-Strata920提供多种配置，可分析单层和多层镀层（包括合金层）。 我们的内部应用专家对X-Strata920进行了优化，确保您获得可靠、可重复结果以满足百种应用，包括：PCB表面处理、连接器镀层、耐腐蚀性处理、装饰表面处理、耐磨损处理和耐高温处理等。 山东总代：青岛浩正科仪智能技术有限公司 hzzn-qd 15-2。53，20。13-71 六、 仪器选型 半自动固定样品台： ØZ轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴手动控制 Ø样品台高度固定，测量zui大样品高度33mm Ø仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×305mm（不含电脑和显示器） 半自动加深样品台 ØZ轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴手动控制 Ø样品仓抽屉式设计，4个位置上下可调，每格高度25.4mm Øzui大样品高度160mm Ø样品仓内部尺寸（宽×深×高）：279×508×152mm Ø仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×400mm(不含电脑和显示器) Ø自定义样品台：依据客户要求提供更高的样品台，满足高度大于160mm的样品测量，仓内抽屉式设计，多个位置上下可调，每格高度25.4mm 全自动样品台 ØZ轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴自动控制 Ø可提供对样品的自动和编程控制，多点测量 Ø鼠标控制样品台移动，jing确地定位样品测量点 Ø测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式 Ø样品台移动行程：178×178mm Ø样品台尺寸：宽610×深560mm Øzui大样品高度33mm Ø仪器外形尺寸：宽610×深1037×高375mm(不含电脑和显示器)