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薄膜测厚仪_0.1微米高度测厚仪厂_全自动测厚仪生产商 摘要：CHY-C薄膜测厚仪，是0.1μm高度，机械接触式测量仪器，有效保证了测试的规范性和准性。常用于塑料薄膜、电池隔膜、铝箔片、硅片、纸张等产品的高度测试。 测试过程中彩色液晶屏实时显示测试数据，测试结果即可以保存也可以通过微型打印机打印，自带USB接口连接计算机软件进行操作和数据析比。 关键词：0.1微米高度测厚仪、薄膜测厚仪、全自动测厚仪、厚度测试仪、台式测厚仪 应用范围 塑料薄膜、薄片、复合膜、电池隔膜、纸张、铝箔片、纺织材料、硅片、金属片、防护膜 专业技术  严格依据标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制  全自动测试，测量头自动升降，有效避免人为操作造成的数据误差  支持自动和手动两种进样测量模式，可针不同测试试样进行自由择  系统可进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可自行设定  系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PC操作面板  试验过程中大值、小值、平均值以及标准偏差等析数据实时显示  配置标准量块用于系统标定，保证测试的度和数据致性  USB接口，便于仪器与计算机连接，专业软件可实现操控和数据析 测试标准 ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、TPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817 技术指标 测试范围： 0～2 mm（常规）； 0～6 mm（配）、0～12 mm（配）  辨 率： 0.1 μm 测量速度： 10 次/min （可调） 测试压力： 17.5±1 KP（薄膜）；  50±1 KP（纸张） 接触面积： 50mm²（薄膜）；  200mm²（纸张） 进样步距： 0～1000 mm 进样速度： 0.1～99.9 mm/s 电    源： C 220 50Hz 外形尺寸： 461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H) 净    重： 32 kg 标准配置：主机、标准量块、专业软件、通信电缆、测量头 赛成电子|||薄膜测厚仪_0.1微米高精度测厚仪厂家_全自动测厚仪生产商