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芯片失效分析 芯片故障分析 IC分析 宜特检测失效分析(Failure Analysis or FA)所提供的服务项目提供客户咨询与讨论提供客户做IC组件失效分析,EFA(电性故障分析) ,PFA(物性故障分析)等所需资源与设备提供客户一步到位的分析服务提供第三者公证报告可协助解决的故障分析的种类ESD / Latch up / OLT / Pre -condition /Reliability 等测试后的失效分析服务验退样品分析服务或对产品瑕疵原因之分析服务C/P , F/T ,PCBA 等流程后之样品分析服关于宜特:iST宜特始创于1994年的台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海， 现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。