武汉普赛斯仪表有限公司
主营产品:源表,数字源表,源测单元,SMU,脉冲电流源,VCSEL测试仪器,脉冲LIV,脉冲恒流源,脉冲光功率测量,激光脉冲电流源
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国产半导体参数分析仪
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产品介绍
普赛斯国产半导体参数分析仪特点和优势:
单台Z大3000V输出;
单台Z大1000A输出,可并联后Z大4000A;
10us的超快电流上升沿;
同步测量;
国标全指标的自动化测试;详询一八一四零六六三四七六

产品参数

项目
参数

集电极-发射极
Z大电压.
3000V

Z大电流
1000A

精度
%

漏电流测试量程
1uA~100mA

栅极-发射极
Z大电压.
300V

Z大电流
1A(直流)/10A(脉冲)

精度
%

Z小电压分辨率
30uV

Z小电流分辨率
10pA




可测项目
集电极-发射极电压Vces,集电极-发射极击穿电压V(br)ces
集电极-发射极饱和电压Vce sat
集电极电流Ic,集电极截止电流Ices
栅极漏电流Iges,栅极-发射极阈值电压Vge(th)
栅极电阻Rg
电容测量
I-V特性曲线扫描,C-V特性曲线扫描等
普赛斯国产半导体参数分析仪集多种测量和分析功能一体,可J准测量功率器件(MOSFET、BJT、IGBT等)的静态参数,电压可高达3KV,电流可高达4KA。该系统可测量不同封装类型的功率器件的静态参数,具有高电压和大电流特性,uΩ级电阻,pA级电流J准测量等特点。支持高压模式下测量功率器件结电容,如输入电容,输出电容、反向传输电容等。功率器件静态参数测试系统采用模块化设计,方便用户添加或升级测量模块,适应测量功率器件不断变化的需求。