高分辨率微焦点DR检测系统
 
关键特征：
190kV/225kV/240kV反射型高功率微焦点射线源
 JIMA卡空间分辨率测试可达2微米
支持多种平板探测器，探元大小可选50微米/100微米/139微米/200微米
高分辨率的实时快速成像
快速图像处理，保存多种图像格式

 主要技术规格：
微米焦点射线管

类型

反射型高功率微焦点射线管


最da管电压

190kV/225kV/240kV/300kV


冷却

封闭式自循环冷却


焦点大小

225kV/240kV：2微米 (采用JIMA卡测试)
300kV：3微米(采用JIMA卡测试)


探测器

类型

非晶硅平板探测器/线阵探测器


像素大小

100um /127um /139um/200um


像素数量

平板探测器：>2048x2048
线阵探测器：4100


机械系统

类型

高精度机械系统


最da有效检测范围

可定制化


最da承重

可定制化


旋转

nx360°



软件

类型

二维射线检测


软件功能

系统控制、二维射线检测、平板探测器校正、图像处理、灰度分析、图像滤波、测量功能、支持定制化软件功能