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HAST加速老化试验箱的应用领域广泛应用于电子行业,用于半导体器件、集成电路、印制电路板等电子产品的可靠性测试;材料科学领域,用于评估新型材料在高温高湿高压环境下的性能变化和耐久性;汽车电子领域,可对汽车电子控制系统、传感器、连接器等进行加速老化测试;还适用于多层电路板、IC封装、液晶屏、LED、磁性材料、稀土、磁铁等材料的密封性能测试,以及对上述产品的耐压力和气密性进行测试。高温高湿加速老化试验箱的性能参数测试环境温度为+25℃,相对湿度≤85%。温度范围在℃→+℃(控制点),温度波动度±5℃,温度偏差±0℃。湿度范围75%~R%.H(控制点),湿度波动度±5%R.H,湿度均匀度±0%。压力范围5~2(05~MPa)(控制点),升温时间从常温到+℃需35min,升压时间从常压到+2需40min。

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