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高温高湿加速老化试验箱的技术规格以型号ptc为例，内箱尺寸为∮×d(mm)；型号ptc的内箱尺寸为∮×d(mm)。温度范围为rt10℃—℃，湿度范围为%r.h，压力范围为0kg/㎝²～8kg/㎝²（相对压力，锅内压力），压力=0kg/㎝²+0kg/㎝²～0kg/㎝²（安全压力容量为4kg/㎝²=1个大气压+3kg/㎝²）。温度分布精度为±5℃，温度控制精度为±5℃，温度解析精度为1℃，加压时间从0kg/㎝²～0kg/㎝²约30分钟。
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HAST加速老化试验箱的设备特点具有优化设计，外观美观大方、做工精细，符合相关安全标准。能高精度控制温度、压力和湿度等参数，温度控制精度可达±5℃，湿度控制精度在±5%RH以内。相比传统老化测试方法，可大幅缩短测试时间，支持多种测试模式，如恒温恒湿、温湿度循环、温湿度与压力组合等模式，还配备了完善的安全保护装置，如过温保护、过压保护、漏电保护等。高温高湿加速老化试验箱的工作原理与优势高温高湿加速老化试验箱的工作原理基于对环境因素的精确控制。通过调节温度、湿度和压力等参数，模拟出各种恶劣的环境条件，加速产品的老化过程。芯片加速老化试验箱利用这一原理，让芯片在短时间内经历相当于长时间自然老化的过程，快速检测出芯片的潜在缺陷。半导体加速老化试验箱则通过加速半导体材料和器件的老化，提前发现质量题。线路板加速老化试验箱可检测线路板在高温高湿环境下的性能变化，确保线路板的可靠性。磁性材料加速老化试验箱能评估磁性材料的磁性稳定性。这种加速老化的方式具有、准确的优势，能够大大缩短产品的研发和检测周期，提高企业的生产效率和产品质量。
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