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ct断层扫描技术还可用于检测物体表面的光学性能，比如在物体表面有多少个不同的光源，这些都是通过计算机来完成。另外，该技术还能够使用于各种材料中。在该技术中，可以利用计算机技术对各种材料进行检测。例如在物体表面的光线强度和透射率不同时，可以利用计算机技术来进行测量。ct断层扫描可以实现对产品的安全性、性能、功能等进行评价，并且通过对产品的安全性进行检测和定位。这种技术具有很高的适应能力。该技术是在ct扫描系统中采用了一个非常水平较高、完整的技术平台，它将产品分成两类其一类为传感器；其二类为电子设备。
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