普赛斯数字源表（SMU）解决方案

（1）实时测试多种材料在同一气体条件下的电阻值的反应灵敏度；

（2）在低电压下进行下高范围跨度（Ω、KΩ、MΩ、GΩ）的电阻测量，测试设备输入电阻要求高 

（3）I/V 曲线扫描； 

（4）上位机实时显示各不同气敏电阻 R/t 曲线，并可记录存档；



方案一：S系列高精度数字源表+上位机软件，搭建多通道测试方案
 



图1 S系列源表搭建多通道测试方案




方案二：CS1010C + CS100/CS400插卡式源表+上位机软件，搭建多通道测试方案

该方案主要采用普赛斯插卡式设备（CS1010主机+CS100子卡 或者CS1010主机 + CS400子卡）组建多通道测试方案，具有通道密度高、同步触发功能强、多设备组合效率高等特点。
 



图2 CS1010主机+CS100/CS400子卡搭建多通道测试方案




方案三：CS1010 + A400采集卡 + S100/CS100 +上位机软件，搭建多通道测试方案

该方案主要由1台CS1010主机、 N张A400采集卡、1台S100或者1张CS100子卡组成。A400采集精密电阻(R1)两端的电压值，所有测试通道采用并联方式统一由S100/CS100进行供电。

A400数据采集卡：普赛斯自主设计开发的插卡式，支持可变速率采样和大容量数据存储的高精度数据采集卡；使用高性能ADC芯片，分辨率可达16bits，Z高支持2MS/s采样率，输入阻抗高达1GΩ。单采集卡支持4通道，且通道间隔离；配合CS1010主机Z多能搭建40个测试通道，测试电阻范围依赖于精密电阻的阻值大小。



图3 CS1010C主机+A400采集卡+ S100搭建多通道测试方案




 

在传感器研究的早期阶段，利用I-V特性分析技术，可以简化用于气体检测系统和分析仪器的传感器合格验证。无论对于新材料、新技术研发还是传感器的生产测试，将I-V特性分析技术用于各种传感器和选择Z佳测试仪器方面，普赛斯都是用户值得信赖合作伙伴，欢迎随时联系探讨，详询18140663476