上海安竹光电科技有限公司
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无线平板探测器工业x射线机无损测试设备:产品内部结构测试
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产品介绍
 XDXIII-F350A型无损测试设备:

             
     

一、仪器简介:

 XDXIII-F350A型无损测试设备采用F350数字成像系统成像,  微焦点射线管集约束散射线,数字成像,图像清晰.仪器全数字化软件使用功能;正反选图像、图像放大缩小、左右旋转,前后旋转、翻转、数字化高清灰度图像采集、千兆网端有线连接,电脑即时成像、存储和即时打印测试图片. 便携式设计、使用可靠、方便。




二、仪器特点:

 XDXIII-F350A型无损测试设备,主要针对电子元器件、封装元器、半导体元器件、BGA、CPU、PCBA、IC芯片、集成电路、连接器、电热丝、电路板、发热管、发热丝、电子产品内部结构是否变形、脱焊、空焊移位、等测试;同时还可用于:铸件、压模铸件、注塑件、气孔、气泡等测试.




仪器技术参数:

:1、数字成像视场: 350X430mm(不同面积可订制)       

2、像素间距:139um;         

3、间距:300-800mm;        

4、A/D转换;16/bits           

5、空间分辨率;

6、管电压:40-120kv;         

7、管靶流: - 5mA;

8、电脑系统:windows10;

9、电脑尺寸:16寸台式电脑

10、有线传输端口:千兆网口;

11、外形尺寸:1350×800x720mm;

12、主机重量:210kg;           

13、适配器输出电压:DC24V。

14、交流电源频率:50-60hz;

15. X射线泄漏量< Gy/h

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