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    V-Sorb 4800比表面积及孔隙率测量仪参数 l  测试方法：氮吸附静态容量法； l  主机功能：吸附及脱附等温线测定,BJH(Barett-Joyner-Halenda)总孔体积及孔径分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,DR(Dubinin-Radushkevich)及DA(Dubinin-Astakhov)填充理论,CO2冰水法微孔分析,BET(Brunauer-Emmett-Teller)法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测定； l  测定范围:0.0005(m2/g)--至无上限(比表面积); 0.35nm-2nm(微孔)，2nm-500nm(中孔和大孔)；0.0001 cc/g--至无上限(总孔体积);  l  测量精度:比表面积重复精度≤±1.0%；最可几孔径重复偏差≤0.01nm； 真密度≤±0.04%；外比表面积≤±1.5%； V-Sorb 4800比表面积及孔隙率测量仪应用领域 1.        超微粉体，纳米材料，颗粒及纤维状材料比表面积及孔径分析测定； 2.        粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量监测； 3.        高校及科研单位材料研究测试，吸附科学及BET，BJH, HK, t-plot等理论教学实验； 4.        电池材料，催化剂，添加剂，吸附剂，陶瓷烧结材料，磁性材料，储能材料等相关性能测定； 5.        其它与材料表面性能，孔径性能等相关的研究工作。